(1. 工业和信息化部 电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室, 广州 510610;2. 华南理工大学 电子与信息学院, 广州510641 )
刘宇翔(1995-),男(满族),河南西峡人,硕士研究生,研究方向为数字电路设计。 张战刚(1986-),男(汉族),河南洛阳人,高级工程师,博士,从事半导体器件辐射效应研究工作。通讯作者,E-mail:zhangzhangang@vip.ceprei.com。 ·电路与系统设计·超大规模FPGA的单粒子效应脉冲激光测试方法 刘宇翔1,2, 张战刚1, 杨凯歌1, 雷志锋1, 黄 云1, 恩云飞1 (1. 工业和信息化部 电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室, 广州 510610； 2. 华南理工大学 电子与信息学院, 广州510641 )摘 要: 建立了一种28 nm HPL硅工艺超大规模SRAM型FPGA的单粒子效应测试方法。采用静态测试与动态测试相结合的方式,通过ps级脉冲激光模拟辐照实验,对超大规模FPGA进行单粒子效应测试。对实验所用FPGA的各敏感单元(包括块随机读取存储器、可配置逻辑单元、可配置存储器)的单粒子闩锁效应和单粒子翻转极性进行了研究。实验结果证明了测试方法的有效性,揭示了多种单粒子闩锁效应的电流变化模式,得出了各单元的单粒子效应敏感性区别。针对块随机读取存储器、可配置逻辑单元中单粒子效应翻转极性的差异问题,从电路结构方面进行了机理分析。 关键词: FPGA；单粒子效应；脉冲激光；辐照测试；单粒子翻转极性 中图分类号:TN406；V417+.6 文献标识码:A
TN406；V417+.6
国家自然科学基金资助项目(11505033)
(1.Key Laboratory of Reliability Physics and Application Technology of Electronic Component,Fifth Research Institute of Ministry of Industry and Information Technology, Guangzhou 510610, P. R. China;2. College of Electronics and Information Engineering, South China University of Technology, Guangzhou 510641, P. R. China)
