(1. 华南理工大学 电子与信息学院, 广州 510641;2. 工业和信息化部电子第五研究所, 广州 510610 )
郭长荣(1992-),男(汉族),江西上饶人,硕士,从事集成电路测试、可靠性试验等工作。 ·产品与可靠性·温度和利用率对CPU性能的影响研究 郭长荣1,2, 余永涛2, 罗 军2, 王小强2, 罗宏伟2, 李国元1 (1. 华南理工大学 电子与信息学院, 广州 510641； 2. 工业和信息化部电子第五研究所, 广州 510610 )摘 要: 随着高性能计算机处理器(CPU)功率密度的增大,温度对CPU计算性能的影响愈发突出。为了解决温度与CPU计算性能之间缺乏定量分析的问题,研究了CPU利用率对温度的影响以及温度对CPU评测分值的影响。采用SPEC CPU2006作为评测基准程序集,结合环境温度试验进行测评,对利用率、温度进行了监测采集。利用试验数据建立了温度和评测分值的对应模型,给出了更精确的评测分值。该结果能使CPU工作于合适的评测温度范围,减少温度对CPU评测分值的影响。 关键词: CPU；CPU利用率；温度；评测分值 中图分类号:TP206+.1 文献标识码:A
TP206+.1
广东省自然科学杰出青年基金资助项目(2015A030306002)；广东特支计划科技创新青年拔尖人才项目(2015TQ01X030)
(1. School of Electronics and Information Engineering, South China Univ. of Technol., Guangzhou 510641, P. R. China;2. China Electronic Product Reliability and Environmental Testing Research Institute, Guangzhou 510610, P. R. China)
