(1. 中国科学院大学, 北京 100049;2. 中国科学院物联网研究发展中心, 江苏 无锡 214135;3. 中国科学院微电子研究所,北京 100029 )
门顶顶(1991-),男(汉族),河南南阳人,硕士研究生,研究方向为NAND Flash可靠性算法。 ·电路与系统设计·一种用于NAND闪存的奇偶位线块编程补偿算法 门顶顶1,2,曹华敏1,3,王 颀1,3,霍宗亮1,3 (1. 中国科学院大学, 北京 100049； 2. 中国科学院物联网研究发展中心, 江苏 无锡 214135; 3. 中国科学院微电子研究所,北京 100029 )摘 要: 为改善数据保持干扰和编程干扰对NAND闪存可靠性的影响,提出了一种新的奇偶位线块编程补偿算法。该算法利用编程干扰效应来补偿由数据保持引起的阈值漂移,修复NAND闪存因数据保持产生的误码,提高了NAND闪存的可靠性。将该算法应用于编程擦除次数为3k次的1x-nm MLC NAND闪存。实验结果表明,在数据保持时间为1年的条件下,与传统奇偶交叉编程算法相比,采用该补偿算法的NAND闪存的误码降低了93%；与读串扰恢复算法相比,采用该补偿算法的NAND闪存的误码下降了38%。 关键词: NAND闪存；数据保持；编程干扰；阈值漂移补偿；可靠性 中图分类号:TN406 文献标识码:A
TN406
国家自然科学基金资助项目(61474137,61404168)
(1. University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, P. R. China;2. CAS R&D Center for Internet of things, Chinese Academy of Sciences, Wuxi, Jiangsu 214135, P. R. China;3. Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, P. R. China)
